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製品検索結果(原理:近赤外分光法)

ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

FT-NIR MATRIX-F II

プロセス測定用に設計・開発された次世代のフーリエ変換近赤外分光計(FT-NIR)。
プローブなどのアクセサリを測定ポイントに設置し光ファイバーで接続する...