FT-NIR MATRIX-F II

ブルカージャパン株式会社　オプティクス事業部

第1章　1.23 センサー 近赤外分光法

【概要と原理】

• プロセス測定用に設計・開発された次世代のフーリエ変換近赤外分光計（FT-NIR）。
• プローブなどのアクセサリを測定ポイントに設置し光ファイバーで接続することで、透過測定、拡散反射測定、非接触の拡散反射測定を遠隔かつリアルタイムで実施。
• 業界標準の通信プロトコルを利用して測定結果を上位システムに出力（4-20mA、Profibus DP、PROFINET、Modbus、OPC DAなど）。

【装置の特徴】

1. 6ポートのマルチプレクサを組込み可能。
2. 最高水準の信頼性を備えたRockSolidTM干渉計。
3. 10年保証付きのダイオードレーザーを採用。
4. 測定トレンドを可視化するCMETソフトウェア。
5. 自動最適化機能で簡単に検量線モデルを作成。
6. 単独制御のために組込みPCを搭載可能。

【応用編】

• 流動層造粒乾燥機でのリアルタイム水分測定。
• 混合工程のリアルタイム終点確認。
• 錠剤のコーティング工程のモニタリング。
• 発酵・培養工程のモニタリング。

【仕　様】